中物理教材中用光的薄膜干涉原理来检验物体是否平整的具体方法（个人理解,仅供参考）：

　　（1）原干涉条纹（左侧对应为尖角位置,实线为亮纹,虚线为暗纹,且假设第二条亮纹对应的垂直位置上物体表面不平整）：

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　　（2）检验条纹（物体表面凸起时）

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　　（3）检验条纹（物体表面凹陷时）

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　　原理大致可以理解为,当物体表面凸起时,被薄膜反射出的两列频率相同的光在同一垂直方向上相干（具体内容就不细说了）.

　　此时垂直方向上两列相干波的相位差恒定,等于这一位置上下两板距离的两倍.

　　若这一位置的表面凸起,则可认为此位置上两列波的波程差变小了,因此干涉条纹趋向波程差逐渐减小的尖角方向,也就是左侧（具体现象如上图示）

　　同理,若凹陷则趋向右.

　　见详细解释见我的参考资料,百度百科上的