质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图质谱仪是一种测定带电粒子质...质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图质谱

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　　质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图

　　质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造原理如图所示,离子源S产生的各种不同正离子束(速度可看作为零),经加速电场加速后垂直进入有界匀强磁场,到达记录它的照相底片P上,设离子在P上的位置到入口处S1的距离为x.第一问求该离子的比荷q比m多大?第二问若离子源产生的是带电荷量为q质量为m1和m2的同位素离子（m1大于m2）他们分别到达照相底片上p1,p2位置（图中未画出）求p1p2间的距离的他x